X射线荧光分析中压片要注意1.不要弄脏表面；2.（）

X射线荧光分析金属块状试样的要求有（） 原子受高能辐射，其外层电子发生能级跃迁，发射出特征X射线（X射线荧光），通过测定其强度进行定量分析的方法被称为X射线荧光分析法（） X射线荧光仪是一种（）的分析方法 X射线荧光的（）与元素的种类有关，据此可以进行定性分析，X射线荧光的（）与元素的含量有关，据此可以进行定量分析 波长色散X射线荧光光谱仪是利用（）将不同波长的X射线荧光分开，得到单色X射线荧光光谱 X射线荧光光谱法可以分析所有的元素。 X射线荧光光谱法可以分析所有的元素（） X荧光的特征能量和强度是X射线荧光光谱定性和定量分析的基础（） X射线荧光分析标准添加法和稀释法中，仍需要标准和校准曲线。 在X射线荧光分析中，一个理想的待测固体试样应满足（） X射线荧光光谱法中，分析微量Si的样品不能用（）磨料抛光 X射线荧光光谱法中，当试样的有效照射面积缩小时，元素的X射线荧光强度（） X射线荧光分析中特征X射线光谱的产生过程可以分两步：第一步是利用入射量子的能量激发，第二步则是以特征X射线（荧光）的形式放出能量。 X射线荧光分析中特征X射线光谱的产生过程可以分两步：第一步是利用入射量子的能量激发，第二步则是以特征X射线（荧光）的形式放出能量（） 实验人员都要注意防止被实验设备产生的X射线照射，下列能产生X射线的仪器是： 用X射线照射样品物质所产生的（）称为X射线荧光 X射线荧光光谱标准加入法可通过（）求得试样的分析结果 X射线荧光光谱分析形成误差的可能性是( )。 X射线荧光分析粉末试样时，采用玻璃熔片法可以消除（）带来的分析误差 X射线荧光光谱分析中，适当选择分析晶体是消除谱线重叠干扰方法之一。