X荧光的特征能量和强度是X射线荧光光谱定性和定量分析的基础（）

X射线荧光光谱仪可分为（）类。 X射线荧光光谱仪灵敏度高 X射线荧光分析中特征X射线光谱的产生过程可以分两步：第一步是利用入射量子的能量激发，第二步则是以特征X射线（荧光）的形式放出能量。 X射线荧光分析中特征X射线光谱的产生过程可以分两步：第一步是利用入射量子的能量激发，第二步则是以特征X射线（荧光）的形式放出能量（） 波长色散X射线荧光光谱仪当探测器记录的X射线强度太高时，计数率和X射线真实强度不成正比，这种现象称作（）现象 X射线荧光光谱仪可测出样品中的：（）. X射线荧光光谱法可以分析所有的元素。 X射线荧光光谱法可以分析所有的元素（） 在能量色散X射线荧光光谱仪上，探测器接收到的是（）光束 波长色散X射线荧光光谱仪的检定周期为（） X射线荧光光谱法中，常用的波长范围在（） 台式X射线荧光镀层测厚仪和手持式X射线荧光光谱仪相比，更适合不规则样品的镀层检测（） X射线荧光光谱分析形成误差的可能性是( )。 X射线荧光光谱分析中，X射线光强度和管电压V的平方、管电流I以及靶元素原子序数Z成正比。 X射线荧光光谱分析中，X射线光强度和管电压V的平方、管电流I以及靶元素原子序数Z成正比（） X射线荧光光谱法中，处理粉末样品的方法主要有压片法和（） X射线荧光光谱标准加入法可通过（）求得试样的分析结果 波长色散X射线荧光光谱仪的X射线探测器是一种将X射线（）转换成（）的装置 X射线荧光光谱仪的X射线分为两种即原级X射线和次级X射线，一般说来，原级X射线的波长比次级的长。 波长色散X射线荧光光谱仪上，在晶体和探测器之间的光束是（）光束