X射线荧光的（）与元素的种类有关，据此可以进行定性分析，X射线荧光的（）与元素的含量有关，据此可以进行定量分析

X射线荧光仪可进行（）分析。 X荧光的特征能量和强度是X射线荧光光谱定性和定量分析的基础（） X射线荧光分析描述X射线波长与原了序数之间关系的定律是（） X射线荧光光谱法可以分析（ ）样品 波长色散X荧光光谱仪中用于探测重元素X射线荧光是（）计数器，用于探测轻元素X射线荧光是（）正比计数器，封闭式正比计数器是用于探测限定的几个元素的X射线荧光 X射线荧光光谱法中，当试样的有效照射面积缩小时，元素的X射线荧光强度（） 原子受高能辐射，其外层电子发生能级跃迁，发射出特征X射线（X射线荧光），通过测定其强度进行定量分析的方法被称为X射线荧光分析法（） X射线荧光的波长轻元素的波长较短，重元素的波长较长。 X射线荧光的波长轻元素的波长较短，重元素的波长较长（） X射线荧光分析的基本原理 X射线荧光分析时基体效应的基体，是指分析时试样中除（）元素本身外其它所有的元素 手持式X射线荧光光谱分析仪，不可检测下列哪些元素成分（） X射线荧光光谱分析法的基体效是指基体中其它元素对分析元素的影响，包括和 波长色散X射线荧光光谱仪是利用（）将不同波长的X射线荧光分开，得到单色X射线荧光光谱 X射线荧光分析金属块状试样有什么要求 X射线荧光分析金属块状试样的要求有（） 在X射线荧光光谱分析中，样品中除分析元素以外的全部元素为基体，基体元素对分析元素的影响叫基体效应。 在X射线荧光光谱分析中，样品中除分析元素以外的全部元素为基体，基体元素对分析元素的影响叫基体效应（） X射线荧光光谱分析中，X射线光强度和管电压V的平方、管电流I以及靶元素原子序数Z成正比。 X射线荧光光谱分析中，X射线光强度和管电压V的平方、管电流I以及靶元素原子序数Z成正比（）