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X射线荧光分析粉末试样时,采用玻璃熔片法可以消除()带来的分析误差
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X射线荧光分析粉末试样时,采用玻璃熔片法可以消除()带来的分析误差
A. 粒度效应
B. 吸收
C. 增强
D. 矿物效应
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X射线荧光光谱分析的试样,可以是固态,也可以是水溶液。试样制备的情况对测定误差无影响。
X射线荧光光谱分析的试样,可以是固态,也可以是水溶液。试样制备的情况对测定误差无影响()
X射线荧光光谱法中,处理粉末样品的方法主要有压片法和()
输变电构支架镀锌层厚度检测,可以采用X射线荧光法()
在X射线荧光分析中,一个理想的待测固体试样应满足()
X射线荧光分析时基体效应的基体,是指分析时试样中除()元素本身外其它所有的元素
在X射线荧光分析中内标法往往可以采用将样品制成溶液的形式或以熔剂熔融的方式进行。
在X射线荧光分析中内标法往往可以采用将样品制成溶液的形式或以熔剂熔融的方式进行()
X射线荧光光谱法分析线的强度与分析面的磨纹方向有关,因此,在测量时采取转动试样的方法,以减少误差()
X射线荧光光谱法分析线的强度与分析面的磨纹方向有关,因此,在测量时采取转动试样的方法,以减少误差()
X射线荧光的()与元素的种类有关,据此可以进行定性分析,X射线荧光的()与元素的含量有关,据此可以进行定量分析
原子受高能辐射,其外层电子发生能级跃迁,发射出特征X射线(X射线荧光),通过测定其强度进行定量分析的方法被称为X射线荧光分析法()
X荧光分析法分析灰石粉末样品,样品的()会造成分析误差()
X射线荧光法中的荧光指()
X射线荧光分析连续X射线中短波限与()有关
X射线荧光仪可进行()分析。
通过测定试样中特征X射线的波长,便可确定存在何种元素,即为X-荧光光谱定性分析()
X射线荧光光谱法基本上是一种()分析法
波长色散X射线荧光光谱仪使用滤光片的目的是消除或者降低来自X射线管发射的原级X射线谱,尤其是靶材的特征X射线谱对待测元素的干扰。
X射线荧光光谱分析中,适当选择分析晶体是消除谱线重叠干扰方法之一。
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