X射线荧光分析金属块状试样有什么要求

X射线荧光仪可进行（）分析。 X荧光分析中，金属块状样品抛光条纹会引起屏蔽效应，测量时需要采用方式消除（） 通过测定试样中特征X射线的波长，便可确定存在何种元素，即为X-荧光光谱定性分析（） X射线荧光光谱分析的试样，可以是固态，也可以是水溶液。试样制备的情况对测定误差无影响。 X射线荧光光谱分析的试样，可以是固态，也可以是水溶液。试样制备的情况对测定误差无影响（） X射线荧光分析时基体效应的基体，是指分析时试样中除（）元素本身外其它所有的元素 X射线荧光分析的基本原理 X射线荧光分析描述X射线波长与原了序数之间关系的定律是（） X射线荧光光谱法可以分析（ ）样品 原子受高能辐射，其外层电子发生能级跃迁，发射出特征X射线（X射线荧光），通过测定其强度进行定量分析的方法被称为X射线荧光分析法（） X射线荧光仪是一种（）的分析方法 X射线荧光光谱分析标准化的方法有（）校正法 波长色散X射线荧光光谱仪是利用（）将不同波长的X射线荧光分开，得到单色X射线荧光光谱 X射线荧光的（）与元素的种类有关，据此可以进行定性分析，X射线荧光的（）与元素的含量有关，据此可以进行定量分析 X射线荧光光谱法可以分析所有的元素。 X射线荧光光谱法可以分析所有的元素（） X射线荧光屏法的优缺点是什么？ X射线荧光屏法的优缺点是什么 X荧光的特征能量和强度是X射线荧光光谱定性和定量分析的基础（） X射线荧光光谱法分析线的强度与分析面的磨纹方向有关，因此，在测量时采取转动试样的方法，以减少误差（）