多选题

X荧光分析中,金属块状样品抛光条纹会引起屏蔽效应,测量时需要采用方式消除()

A. 多次测量
B. 试样自转
C. 清洗表面
D. 试样与标样磨痕一致

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电解抛光适用于哪些金属样品 X射线荧光分析时基体效应的基体与光电直读光谱分析用的铁基样品、镍基样品、铬基样品的铁基、镍基、铬基含意是一样的() 灯泡变动不会引起干涉条纹偏移() 抛光作业可能会引起()职业病 荧光物质分子中引入-OH基时,会引起 X线成像相关的特性中,荧光效应是 X线成像相关的特性中,荧光效应是() X-荧光仪测定样品中钴、锰、溴元素含量方法适合PTA装置中样品() X射线荧光光谱仪可测出样品中的:(). 温度的变化会引起对好零的条纹() 在X射线荧光分析中,当样品研磨到极细时,则()基本消失;将样品制成薄层并薄到临界厚度以下时,分析线所受的()与样品的组成无关 荧光分析的样品有哪些? 荧光分析的样品有哪些 焊缝金属中的硫会引起(). X射线荧光光谱分析中,当基体效应是增强效应时,将使所得被测元素的结果偏低。 X射线荧光光谱分析中,当基体效应是增强效应时,将使所得被测元素的结果偏低() 棱镜的直角误差过大,不会引起干涉条纹位移 在X射线荧光分析中内标法往往可以采用将样品制成溶液的形式或以熔剂熔融的方式进行。 在X射线荧光分析中内标法往往可以采用将样品制成溶液的形式或以熔剂熔融的方式进行() X射线荧光分析时基体效应的基体,是指分析时试样中除()元素本身外其它所有的元素
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