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X荧光分析中,金属块状样品抛光条纹会引起屏蔽效应,测量时需要采用方式消除()
多选题
X荧光分析中,金属块状样品抛光条纹会引起屏蔽效应,测量时需要采用方式消除()
A. 多次测量
B. 试样自转
C. 清洗表面
D. 试样与标样磨痕一致
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