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利用IIW试块50mm孔与两侧面距离,能测定直探头盲区的大致范围()
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利用IIW试块50mm孔与两侧面距离,能测定直探头盲区的大致范围()
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利用CSK-ⅠA标准试块,在斜探头K值测量中,已知斜探头前沿为12mm,将斜探头前沿对准ф50mm孔在显示屏呈现回波最高幅度时,测得斜探头前沿至CSK-ⅠA标准试块端部距离为83mm,则斜探头K值为()
阶梯试块不能测定0°探头(即直探头)的距离幅度和阻塞特性()
CSK-1A试块利用高度测定直探头分辨力()
IIW试块高mm()
利用CSK-ⅠA标准试块,在斜探头K值测量中,已知斜探头前沿为12mm , 将斜探头前沿对准ф50mm孔在显示屏呈现回波最高幅度时,测得斜探头前沿至CSK-ⅠA标准试块端部距离为83mm,则斜探头K值为()。
探头箱体两侧与轨枕侧面间距大于mm()
测定钢轨探伤仪的阻塞范围时,纵波直探头置于阶梯试块50mm厚度处,波幅达80%时,再将灵敏度提高观察波幅高度()
CSK-IA试块的Φ50台阶孔有利测定斜探头的()
CSK-1A试块Φ50有机玻璃可以测定直探头的盲区和
IIW试块测定斜探头的入射点,在探测任何声速的试件时其位置不变。
IIW试块测定斜探头的入射点,在探测任何声速的试件时其位置不变()
CSK-IA试块利用有机玻璃块测定直探头分辨力和穿透力()
轴Φ50mm与孔Φ50mm的配合是()
用IIW标准试块测定斜探头的折射角度,在探测任何声速的试件时,此值()
CSK-1A试块利用试块直角棱边测定斜探头的()
斜探头的K值常用CSK-ⅠA试块上的φ50和φ1.5横孔来测定。
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用折射角50°的探头前后扫查测定一与探测面垂直的缺陷,如探头移动距离为50mm,则该缺陷的指示延伸度约为mm()
可利用CSK-1A试块R50和R100两个曲面测定斜探头分辨率()
Φ50mm的孔与Φ50mm的轴相配合是()
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