CSK-IA试块利用有机玻璃块测定直探头分辨力和穿透力（）

分辨力的测试使用2.5MHz、Φ25mm直探头和TZS-R型标准试块（） 分辨力的测试使用2.5MHz、420mm直探头和CS-1-5型标准试块（） 分辨力的测试使用2.5MHz、Φ20mm直探头和CS-1-5型标准试块（） CSK-ⅠA试块上φ50、φ44、φ40三孔的台阶，可用来测定斜探头的分辨力（） CSK-ⅠA试块上φ50 、φ44、φ40 三孔的台阶，可用来测定斜探头的分辨力。 用CSK－1A试块测定探头和仪器分辨力，现测得台孔φ50、φ44反射波等高时，波峰高H1＝80%，波谷高H2＝50％，求分辨力为多少？ 斜探头在工作时，有机玻璃楔块传播的是横波（） 测定纵波远距离分辨力是ⅡW试块的主要用途之一（） 0°探头分辨率的测定应使用试块（） 探头匹配了阻尼块以后，使始脉冲变窄，盲区变小，分辨力（）。 CSK-1A试块利用试块直角棱边测定斜探头的（） 用CSK－IA 试块测定斜探头和仪器的分辨力,现测得台阶孔Ф50、Ф44 反射波等高时波峰高h1=80% ,h2=25% ,求分辨力为多少？ 0°探头分辨力的测定应使用（） 阶梯试块不能测定0°探头（即直探头）的距离幅度和阻塞特性（） CSK-IA试块利用试块直角棱边测定斜探头的声轴直角（） 可利用CSK-1A试块R50和R100两个曲面测定斜探头分辨率（） 试说明超声轴向分辨力和横向分辨力的含义。 穿透力和分辨力的关系是什么（） 利用IIW试块上的φ50孔两侧面的距离，只能测定直探头盲区的大致范围。 利用IIW试块上的φ50孔两侧面的距离，只能测定直探头盲区的大致范围（）