CSK-1A试块利用高度测定直探头分辨力（）

用CSK－IA 试块测定斜探头和仪器的分辨力,现测得台阶孔Ф50、Ф44 反射波等高时波峰高h1=80% ,h2=25% ,求分辨力为多少？ 可利用CSK-1A试块R50和R100两个曲面测定斜探头分辨率（） CSK-1A试块Φ50有机玻璃可以测定直探头的盲区和 分辨力的测试使用2.5MHz、Φ20mm直探头和CS-1-5型标准试块（） 分辨力的测试使用2.5MHz、420mm直探头和CS-1-5型标准试块（） CSK-IA试块利用试块直角棱边测定斜探头的声轴直角（） 分辨力的测试使用2.5MHz、Φ25mm直探头和TZS-R型标准试块（） CSK-1A试块利用校定时期基线或测定斜探头的入射点（） CSK-1A试块利用厚度25㎜和高度100㎜测定探伤仪的（） 0°探头分辨力的测定应使用（） CSK-1A试块能测定探伤仪和探头的哪些指标（） 利用CSK-1A试块上∮50mm曲面和∮1.5mm横孔可测定斜探头（） 利用CSK-1试块上∮50mm曲面和∮1.5mm横孔可测定斜探头（） 探头处于CSK-1A试块R100探测面时，可以测定斜探头的（） CSK-1A试块利用厚度25mm和高度100mm测定探伤仪的（） CSK-1A试块利用厚度25mm和高度100mm测定探伤仪的（） 测定纵波远距离分辨力是ⅡW试块的主要用途之一（） 测定斜探头K值时，应探测CSK—IA试块圆弧面 测定斜探头K值时，应探测CSK—IA试块圆弧面 CSK-IA试块利用R50和R100校订时基线或测定斜探头的（）