CSK-IA试块利用试块直角棱边测定斜探头的声轴直角（）

测定斜探头K值时，应探测CSK—IA试块圆弧面 测定斜探头K值时，应探测CSK—IA试块圆弧面 IIW试块的Φ50台阶孔有利测定斜探头的（） 探头处于CSK-1A试块R100探测面时，可以测定斜探头的（） CSK-1A试块利用高度测定直探头分辨力（） 利用CSK-1A试块上∮50mm曲面和∮1.5mm横孔可测定斜探头（） 利用CSK-1试块上∮50mm曲面和∮1.5mm横孔可测定斜探头（） CSK-IA试块利用R50和R100校订时基线或测定斜探头的（） 测试探头楔内回波时，0度探头可以阶梯试块上、斜探头可在WGT-3试块上测试（） DB-H2试块主要用于测定斜探头的距离幅度特性（） CSK-IA试块的Φ50台阶孔有利测定斜探头的（） CSK-IA试块利用有机玻璃块测定直探头分辨力和穿透力（） 可利用CSK-1A试块R50和R100两个曲面测定斜探头分辨率（） 试块是校对、测定仪器和探头的（） 试块的用途有哪些？CSK－IA试块可测定仪器和探头的哪些性能？ 斜探头的K值常用CSK-ⅠA试块上的φ50和φ1.5横孔来测定。 斜探头的K值常用CSK-ⅠA试块上的φ50和φ1.5横孔来测定（） 0°探头分辨率的测定应使用试块（） CSK-1A试块利用和R100来调整声波的探测范围或测定斜探头的入射点（前沿长度）（） IIW试块测定斜探头的入射点，在探测任何声速的试件时其位置不变。