THDS-B（哈科所）红外轴温探测系统，双侧元件温度接近环温时，可能是探头温控板造成的（）

THDS（哈科所）红外轴温探测系统，探头插头松动会造成元件温度异常，无法正常采集信号（） THDS（哈科所）探测站,红外轴温探测系统光子探头碲镉汞元件温度调整，具有种调整制冷方式（） THDS（哈科所）探测站,红外轴温探测系统光子探头的元件温度是由控制箱内的控制的（） THDS-B（哈科所）红外轴温探测系统，如果报元件温度故障，可能是热靶故障（） THDS-C（哈科所）红外轴温探测系统，光子探头元件工作温度应该为0度以下（） THDS-B（哈科所）红外轴温探测系统，光子探头元件工作温度应该为0度以下（） THDS-C（哈科所）红外轴温探测系统，光子探头元件温度异常可能与光子探头有关（） THDS-C（哈科所）红外轴温探测系统，如果报元件温度故障，可能是热靶故障（） THDS-A（哈科所）红外轴温探测系统，探头插头松动会造成元件温度异常，无法正常采集信号（） THDS-B（哈科所）探测站,红外轴温探测系统元件温度与正常值偏离较大，就会造成探头测温（） THDS-A（哈科所）探测站,红外轴温探测系统光子探头的元件温度是由控制箱内的控制的（） THDS（哈科所）探测站,红外轴温探测系统环温传感器电缆断路,造成环温显示，可能与环温头有关（） THDS-B（哈科所）红外轴温探测系统，探头插头松动会造成元件温度异常，无法正常采集信号（） THDS（哈科所）探测站,红外轴温探测系统环温传感器电缆断路,造成环温显示-50度，会影响（） THDS（哈科所）红外轴温探测系统，板盘温度越高，探头所测得的轴温也相应提高（） THDS-A（哈科所）探测站,红外轴温探测系统光子探头元件温度超过正常值范围，有可能造成探头测温（） THDS-A（哈科所）探测站,红外轴温探测系统环温传感器电缆断路,造成环温显示-50度，会影响（） THDS（哈科所）探测站,红外轴温探测系统光子探头手动调整制冷后，元件制冷电流大约为（） THDS-C（哈科所）红外轴温探测系统，板温度越高，探头所测得的轴温也相应提高（） THDS-A（哈科所）红外轴温探测系统，板盘温度越高，探头所测得的轴温也相应提高（）