THDS-B（哈科所）红外轴温探测系统，光子探头元件工作温度应该为0度以下（）

THDS-B（哈科所）红外轴温探测系统，光子探头的动态噪声超标必须要更换光子探头（） THDS（哈科所）探测站,红外轴温探测系统光子探头的元件温度是由控制箱内的控制的（） THDS（哈科所）探测站,红外轴温探测系统光子探头碲镉汞元件温度调整，具有种调整制冷方式（） THDS-C（哈科所）探测站,红外轴温探测系统光子探头手动调整制冷后，元件制冷电流大约为（） THDS（哈科所）红外轴温探测系统，光子探头的静态噪声是恒定不变的（） THDS-C（哈科所）探测站,红外轴温探测系统光子探头元件温度超过正常值范围，有可能造成探头测温（） THDS-A（哈科所）探测站,红外轴温探测系统光子探头的元件温度是由控制箱内的控制的（） THDS-B（哈科所）红外轴温探测系统，光子探头的静态噪声是恒定不变的（） THDS-C（哈科所）红外轴温探测系统，光子探头的静态噪声是恒定不变的（） THDS-C（哈科所）红外轴温探测系统光子探头的元件温度是由控制箱内的探头温控板控制的（） THDS-B（哈科所）红外轴温探测系统光子探头的元件温度是由控制箱内的探头温控板控制的（） THDS-A（哈科所）探测站,红外轴温探测系统光子探头手动调整制冷电流的调整时间为（） THDS-C（哈科所）探测站,红外轴温探测系统光子探头手动调整制冷电流的调整时间为（） THDS（哈科所）红外轴温探测系统中探头插头松动不会造成（） THDS-A（哈科所）红外轴温探测系统，光子探头的制冷电流不稳定容易造成探头测温出现误差（） THDS（哈科所）探测站,红外轴温探测系统光子探头校零时测得的电压正常值为（） THDS-B（哈科所）红外轴温探测系统，光子探头的静态噪声超过100毫伏时应更换探头（） THDS-B（哈科所）红外轴温探测系统，光子探头的动态噪声超过150毫伏时应更换探头（） THDS-C（哈科所）红外轴温探测系统，光子探头的静态噪声超过100毫伏时应更换探头（） THDS-C（哈科所）红外轴温探测系统，光子探头的制冷电流不稳定容易造成探头测温出现误差（）