THDS-B（哈科所）红外轴温探测系统，探头插头松动会造成元件温度异常，无法正常采集信号（）

THDS-B（哈科所）红外轴温探测系统，热靶表面变色会造成探头反馈温度异常（） THDS-C（哈科所）红外轴温探测系统，热靶表面变色会造成探头反馈温度异常（） THDS-A（哈科所）探测站,红外轴温探测系统热敏探头板温比正常值偏高很多，容易造成（） THDS（哈科所）探测站,红外轴温探测系统元件温度与正常值偏离较大，就会造成探头测温（） THDS-B（哈科）红外轴温探测系统光子探头轴温信号由处理（） THDS-A（哈科所）探测站,红外轴温探测系统光子探头元件温度超过正常值范围，有可能造成探头测温（） THDS-A（哈科所）红外轴温探测系统，光子探头的制冷电流不稳定容易造成探头测温出现误差（） THDS（哈科所）红外轴温探测系统，板盘温度越高，探头所测得的轴温也相应提高（） THDS（哈科所）红外轴温探测系统，光子探头的静态噪声是恒定不变的（） THDS-A（哈科所）探测站,红外轴温探测系统探头光孔有异物遮挡时，容易造成探头探测出来的轴承温度（） THDS-C（哈科所）探测站,红外轴温探测系统光子探头元件温度超过正常值范围，有可能造成探头测温（） THDS-C（哈科所）红外轴温探测系统，光子探头的制冷电流不稳定容易造成探头测温出现误差（） THDS-A（哈科所）红外轴温探测系统，光子探头的动态噪声超标必须要更换光子探头（） THDS-C（哈科所）红外轴温探测系统，板温度越高，探头所测得的轴温也相应提高（） THDS-A（哈科所）红外轴温探测系统，板盘温度越高，探头所测得的轴温也相应提高（） THDS（哈科所）探测站,红外轴温探测系统板温过高或过低都会造成板温自检（） THDS-B（哈科所）探测站,红外轴温探测系统元件温度与正常值偏离较大，就会造成探头测温（） THDS（哈科所）探测站,红外轴温探测系统元温传感器电缆断路,会影响（） THDS-A（哈科所）探测站,红外轴温探测系统光子探头元件温度正常值范围是（） THDS（哈科所）探测站,红外轴温探测系统板温传感器电缆断路,造成环温显示-50度，会影响（）