THDS（哈科所）探测站,红外轴温探测系统光子探头校零时测得的电压正常值为（）

THDS（哈科所）探测站,红外轴温探测系统光子探头碲镉汞元件温度调整，具有种调整制冷方式（） THDS（哈科所）探测站,红外轴温探测系统光子探头的元件温度是由控制箱内的控制的（） THDS-C（哈科所）探测站,红外轴温探测系统光子探头手动调整制冷后，元件制冷电流大约为（） THDS-A（哈科所）探测站,红外轴温探测系统光子探头元件温度超过正常值范围，有可能造成探头测温（） THDS-A（哈科所）探测站,红外轴温探测系统光子探头的元件温度是由控制箱内的控制的（） THDS-C（哈科所）探测站,红外轴温探测系统光子探头元件温度超过正常值范围，有可能造成探头测温（） THDS-B（哈科）红外轴温探测系统光子探头轴温信号由处理（） THDS-A（哈科所）红外轴温探测系统，光子探头的动态噪声超标必须要更换光子探头（） THDS（哈科所）探测站,红外轴温探测系统内探探头在撤掉校零并打开保护门后，测得正常天空值是（） THDS（哈科所）红外轴温探测系统，光子探头的静态噪声是恒定不变的（） THDS-C（哈科所）红外轴温探测系统，光子探头元件温度异常可能与光子探头有关（） THDS-B（哈科所）红外轴温探测系统，光子探头的动态噪声超标必须要更换光子探头（） THDS-A（哈科所）探测站,红外轴温探测系统内探探头在撤掉校零并打开保护门后，测得正常天空值是（） THDS-C（哈科所）红外轴温探测系统，光子探头的静态噪声是恒定不变的（） THDS-B（哈科所）红外轴温探测系统，光子探头的静态噪声是恒定不变的（） THDS-A（哈科所）探测站,红外轴温探测系统热敏探头板温比正常值偏高很多，容易造成（） THDS-A（哈科所）探测站,红外轴温探测系统探头光孔有异物遮挡时，容易造成探头探测出来的轴承温度（） THDS-C（哈科所）探测站,红外轴温探测系统探头温控板是控制温度的电路板（） THDS（哈科所）探测站,红外轴温探测系统元件温度与正常值偏离较大，就会造成探头测温（） THDS（哈科所）探测站红外轴温探测系统中对于磁钢描述正确的是（）