在X射线荧光分析中，重元素谱线复杂而且较为接近，所以要选择（）准直器以提高分辨率

波长色散X射线荧光谱线相对强度是指在一特定谱线系中各谱线间的强度比（） X射线荧光的（）与元素的种类有关，据此可以进行定性分析，X射线荧光的（）与元素的含量有关，据此可以进行定量分析 X射线荧光光谱法可以分析所有的元素。 X射线荧光光谱法可以分析所有的元素（） X射线荧光光谱内标法，即把一定量的内标元素加入到标准试料及分析试料中，以标准试料中分析元素与内标元素的X射线荧光强度比与分析元素含量绘制校准曲线。测定分析试料的分析元素与内标元素的X射线荧光强度比，从校准曲线求得分析元素含量。 X射线荧光光谱内标法，即把一定量的内标元素加入到标准试料及分析试料中，以标准试料中分析元素与内标元素的X射线荧光强度比与分析元素含量绘制校准曲线。测定分析试料的分析元素与内标元素的X射线荧光强度比，从校准曲线求得分析元素含量（） 用手持式X射线荧光光谱仪分析钢材中Si、Al元素时，激发时间要适当加长（） 波长色散X射线荧光光谱仪的分光晶体是利用晶体的（）现象使不同波长的X射线分开，以便从中选择被测元素的（）谱线进行测定 X射线荧光光谱法中，当试样的有效照射面积缩小时，元素的X射线荧光强度（） 在X射线荧光光谱分析中，样品中除分析元素以外的全部元素为基体，基体元素对分析元素的影响叫基体效应。 在X射线荧光光谱分析中，样品中除分析元素以外的全部元素为基体，基体元素对分析元素的影响叫基体效应（） X射线荧光分析时基体效应的基体，是指分析时试样中除（）元素本身外其它所有的元素 X射线荧光光谱分析法的基体效是指基体中其它元素对分析元素的影响，包括和 X射线荧光光谱分析中，对于不同元素的同名谱线，随着原子序数的增加，波长变短。特征光谱的这些物理现象和特点，主要是由各种元素的化学成分决定的。 X射线荧光光谱分析中，对于不同元素的同名谱线，随着原子序数的增加，波长变短。特征光谱的这些物理现象和特点，主要是由各种元素的化学成分决定的（） X射线荧光光谱分析散射背景内标法是用由连续谱线的散射线构成的本底（背景）为内标的校正方法。 X射线荧光光谱分析散射背景内标法是用由连续谱线的散射线构成的本底（背景）为内标的校正方法（） 通过测定试样中特征X射线的波长，便可确定存在何种元素，即为X-荧光光谱定性分析（） 波长色散X射线荧光K系谱线相对强度在不同元素间变化范围较大，测得的准确度也较高，而L和M谱线系的相对强度变化较小。 波长色散X射线荧光K系谱线相对强度在不同元素间变化范围较大，测得的准确度也较高，而L和M谱线系的相对强度变化较小（）