介质损耗试验时，产生-tgδ的原因有哪些

变压器交接试验时，220kV电压等级的非纯瓷套管的介质损耗因数tgδ不大于（） 现场测量tgδ时，往往出现－tgδ，阐述产生－tgδ的原因？ 现场测量tgδ时，往往出现－tgδ，阐述产生－tgδ的原因 什么是介质损耗？为什么说tgδ（δ为介质损耗角）越大，电介质材料的绝缘性能越差？ 什么叫介质损耗？为什么说tgδ（δ为介质损耗角）越大，电介质材料的绝缘性能越差？ 什么叫介质损耗？为什么说tgδ（δ为介质损耗角）越大，电介质材料的绝缘性能越差 什么是介质损耗？为什么说tgδ（δ为介质损耗角）越大，电介质材料的绝缘性能越差 介质损耗测试主要试验步骤有（）。 在绝缘试验时，通过测量介质损耗角的（）来检验介质损耗的大小。 在预防性试验中，下列哪些通常不做介质损耗试验（） 介质损耗因数tg∮试验，可以发现设备绝缘整体受潮、劣化变质、以及小体积设备绝缘的某些局部缺陷（） 为什么说tgδ（δ为介质损耗角）越大，电介质材料的绝缘性能越差？ 为什么说tgδ（δ为介质损耗角）越大，电介质材料的绝缘性能越差 在绝缘试验时，通过测量介质损耗角的正切值tanδ来检验介质损耗的大小。 在绝缘试验时，通过测量介质损耗角的正切值tanδ来检验介质损耗的大小（） 测量非纯瓷套管的介质损耗因数tgδ和电容值时，同一绕组的套管（） 光纤连接时产生损耗的主要原因有（） 套管相对介质介质损耗因数当达到（）时，应停电进行例行试验。 在绝缘试验时通过测量介质损耗角的正切值tan6来检验介质损耗的大小（） 在一般情况下，介质损耗tg∮试验主要反映设备绝缘的整体缺陷，而对局部缺陷反映不灵敏（）