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测量非纯瓷套管的介质损耗因数tgδ和电容值时,同一绕组的套管()
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测量非纯瓷套管的介质损耗因数tgδ和电容值时,同一绕组的套管()
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高压套管电容量和介质损耗因数试验影响测量的因素有( )。
变压器套管电容芯的介质损耗因数,20℃时的介质损耗因数应不大于()。
变压器套管电容芯的介质损耗因数,20℃时的介质损耗因数应不大于()
变压器绕组连同套管介质损耗因数tanα试验,应尽量在油温低于时测量()
测量变压器电容型套管的介质损耗因数和电容量时,其所属绕组的线端与中性点(有中性点引出者)必须短接一起加压,其他非被测绕组则短接接地()
40.5kV及以上非纯瓷套管tanδ和多油断路器的介质损耗角正切值tanδ测试危险点包括( )。
关于套管电容量和介质损耗因数停电试验,说法正确的是()。
40.5kV及以上非纯瓷套管tanδ和多油断路器的介质损耗角正切值tanδ测试前的准备工作包括( )。
40.5kV及以上非纯瓷套管tanδ 和多油断路器的介质损耗角正切值tanδ 可以同时也检查( )部件的绝缘状况。
电力变压器、电抗器绕组绝缘介质损耗因数测量,必要时分别测量()的绝缘介质损耗因数。
电容量和介质损耗因数试验时,被试品连同油浸绕组测量温度以油温为准,尽量使每次测量的温度相近()
20℃时500kV变压器绕组连同套管介质损耗因数tanα不得大于()
介质损耗因数tgδ试验,可以发现设备()
串联补偿装置非纯瓷套管的tanδ测量油浸纸电容式≤0.7(500kV以下)()
介损电桥测量小电容试品介质损耗因数时,采用( )接线较好。
测量介质损耗正切值tgδ时出现负数现象的原因是什么?
测量介质损耗正切值tgδ时出现负数现象的原因是什么
电容量和介质损耗因数测试被试品连同油浸绕组测量温度以顶层油温为准,尽量使每次测量的温度相近,且应在变压器顶层油温低于时测量,不同温度下的tanδ值应换算到同一温度下进行()
为了保证电容量和介质损耗因数测量的准确,对测量仪器的要求如下:介质损耗因数的测量不确定度不大于(),电容量的测量不确定度不大于()。
套管相对介质介质损耗因数检测周期为()。
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