CSK-1A试块的上85和91两个台阶，是测定（）

利用CSK-1A试块测定斜探头分辨力（） CSK-ⅠA试块上φ50 、φ44、φ40 三孔的台阶，可用来测定斜探头的分辨力。 CSKⅠA试块上R100和R50两个阶梯圆弧面可用来调节横波扫描速度和探测范围。 CSKⅠA试块上R100和R50两个阶梯圆弧面可用来调节横波扫描速度和探测范围（） 利用CSK-1A试块上∮50mm曲面和∮1.5mm横孔可测定斜探头（） 利用CSK-1试块上∮50mm曲面和∮1.5mm横孔可测定斜探头（） CSK-1A试块Φ50有机玻璃可以测定直探头的盲区和 CSK-1A试块利用厚度25㎜和高度100㎜测定探伤仪的（） CSK-1A试块Ф40、Ф44、Ф50、台阶孔,主要用来测试斜探头的（） CSK-1A试块Ф40、Φ44、Φ50、台阶孔，主要用来测试斜探头的（） CSK-1A试块利用高度测定直探头分辨力（） CSK-1A试块R100圆弧面可测定（） CSK－1A试块l00圆弧面可测定（） CSK-1A试块能测定探伤仪和探头的哪些指标（） CSK-ⅡA试块上的人工反射体是Φ1×6（） CSK-1A试块属于（）。 CSK－1A试块060303l00圆弧面可测定（） CSK-1A试块测量R50、R100阶梯圆曲面同时获得两个反射回波是用来（） 斜探头的K值常用CSK-ⅠA试块上的φ50和φ1.5横孔来测定。 斜探头的K值常用CSK-ⅠA试块上的φ50和φ1.5横孔来测定（）