THDS-B探测站,红外轴温探测系统制冷电流不稳定可能是原因造成（）

THDS-C（哈科所）红外轴温探测系统，光子探头的制冷电流不稳定容易造成探头测温出现误差（） THDS-C（哈科所）探测站,红外轴温探测系统制冷电流最大值为，制冷电流过高或过低会影响器件制冷温度的深度（） THDS（哈科所）探测站,红外轴温探测系统光子探头手动调整制冷后，元件制冷电流大约为（） THDS-A（哈科所）探测站,红外轴温探测系统光子探头手动调整制冷后，元件制冷电流大约为（） THDS（哈科所）探测站,红外轴温探测系统元件温度不稳定或有跳变，容易造成探头碲镉汞器件的变化（） THDS-C（哈科所）探测站,红外轴温探测系统光子探头手动调整制冷后，元件制冷电流大约为（） THDS-A（哈科所）探测站,红外轴温探测系统元件温度不稳定或有跳变，容易造成探头碲镉汞器件的变化（） THDS-BS红外轴温探测系统器件温度不稳定会造成测温精度下降（） THDS-A（哈科所）探测站,红外轴温探测系统光子探头手动调整制冷电流的调整时间为（） THDS-A（哈科所）探测站,红外轴温探测系统元件温度不稳定或有跳变，容易造成探头碲镉汞器件的灵敏率（） THDS-C（哈科所）探测站,红外轴温探测系统元件温度不稳定或有跳变，容易造成探头碲镉汞器件的变化（） THDS-C（哈科所）探测站,红外轴温探测系统光子探头手动调整制冷电流的调整时间为（） THDS-A（哈科所）探测站,红外轴温探测系统如果报元件温度故障，可能是（） THDS-B（康拓）红外轴温探测系统制冷板是控制温度的电路板（） THDS-B探测站,红外轴温探测系统环温过高或过低都会造成环温自检（） 在THDS-B探测站,红外轴温探测系统中板温插头松动的故障现象是（） THDS-B探测站,红外轴温探测系统元温传感器电缆断路,会影响（） THDS（哈科所）探测站,红外轴温探测系统光子探头碲镉汞元件温度调整，具有种调整制冷方式（） THDS（哈科所）探测站,红外轴温探测系统单侧元件温度接近环温时，可能是造成的（） THDS（哈科所）探测站,红外轴温探测系统板温过高或过低都会造成板温自检（）