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THDS-C（哈科所）探测站,红外轴温探测系统单侧元件温度接近环温时，可能是造成的（） THDS-A（哈科所）探测站,红外轴温探测系统元件温度不稳定或有跳变，容易造成探头碲镉汞器件的灵敏率（） THDS-C（哈科所）探测站,红外轴温探测系统元件温度不稳定或有跳变，容易造成探头碲镉汞器件的变化（） THDS-B（哈科所）探测站,红外轴温探测系统元件温度与正常值偏离较大，就会造成探头测温（） THDS-A（哈科所）探测站,红外轴温探测系统光子探头的元件温度是由控制箱内的控制的（） THDS（哈科所）探测站,红外轴温探测系统光子探头手动调整制冷后，元件制冷电流大约为（） THDS-A（哈科所）探测站,红外轴温探测系统光子探头元件温度超过正常值范围，有可能造成探头测温（） THDS-A（哈科所）探测站,红外轴温探测系统制冷电流不稳定可能是原因造成（） THDS-A（哈科所）探测站,红外轴温探测系统光子探头手动调整制冷后，元件制冷电流大约为（） THDS（哈科所）探测站红外轴温探测系统中对于磁钢描述正确的是（） THDS（哈科所）探测站,红外轴温探测系统制冷电流不稳定，红外线动态检测测温成绩不能保证（） THDS-C（哈科所）探测站,红外轴温探测系统光子探头元件温度超过正常值范围，有可能造成探头测温（） 在THDS（哈科所）探测站,红外轴温探测系统中环温插头松动的故障现象是（） THDS（哈科所）探测站,红外轴温探测系统元温传感器电缆断路,会影响（） THDS-C（哈科所）探测站,红外轴温探测系统制冷电流不稳定可能是原因造成（） THDS（哈科所）探测站,红外轴温探测系统板温过高或过低都会造成板温自检（） THDS-C（哈科所）探测站,红外轴温探测系统光子探头手动调整制冷后，元件制冷电流大约为（） THDS-C（哈科所）探测站,红外轴温探测系统探头温控板是控制温度的电路板（） THDS（哈科所）探测站,红外轴温探测系统板温比正常值偏高很多，容易造成（） THDS-A（哈科所）探测站,红外轴温探测系统元温传感器电缆断路,会影响（）