CSK-IA试块利用有机玻璃块测定直探头的（）

阶梯试块不能测定0°探头（即直探头）的距离幅度和阻塞特性（） 利用CSK-1A试块测定斜探头分辨力（） 利用IIW试块上的φ50孔两侧面的距离，只能测定直探头盲区的大致范围。 利用IIW试块50mm孔与两侧面距离，能测定直探头盲区的大致范围（） 利用IIW试块上的φ50孔两侧面的距离，只能测定直探头盲区的大致范围（） 利用SK-1A试块上直角棱边可测定斜探头（） 以有机玻璃作声透镜的水浸聚焦探头，有机玻璃/水界面为凹曲面。 以有机玻璃作声透镜的水浸聚焦探头，有机玻璃/水界面为凸曲面。 以有机玻璃作声透镜的水浸聚焦探头，有机玻璃／水界面为凹曲面（） 利用IIW试块上Φ50mm孔与两侧面的距离，仅能测定直探头盲区的大致范围（） 试块是校对、测定仪器和探头的（） CSK-1A试块利用校定时期基线或测定斜探头的入射点（） 0°探头分辨率的测定应使用试块（） 试块的用途有哪些？CSK－IA试块可测定仪器和探头的哪些性能？ WGT-3试块主要用于测定斜探头的（） 与IIW试块相比，CSKⅠA试块的优点之一是可以测定斜探头的分辨力。 与IIW试块相比，CSKⅠA试块的优点之一是可以测定斜探头的分辨力（） 带有机玻璃斜楔探头只能用于斜射法探伤（） DB-H2试块主要用于测定斜探头的（） 阶梯试块主要用于测定0°探头和0°通道的（）