THDS-A（哈科所）系统光子探头的元件温度是由控制箱内的探头温控板控制的（）

THDS-C（哈科所）探测站中光子探头的元件温度是由控制箱内的制冷控制板控制的（） HTK-499型单光子探测系统光子探头的元件温度是由控制箱内的光子控制板控制的（） THDS（哈科所）探测站,光子探头元件温度异常会造成（） THDS-C（哈科所）红外轴温探测系统，光子探头元件温度异常可能与光子探头有关（） （康拓）THDS-A系统光子探头的器件温度是由控制箱内的温控板控制的（） THDS-B（哈科所）探测站,光子探头元件温度异常会造成（） THDS-A（哈科所）探测站,红外轴温探测系统光子探头元件温度正常值范围是（） THDS-A（哈科所）探测站中，光子探头元件温度变化超过系统要自动进行热靶标定（） THDS（哈科所）探测站中光子探头元件温度异常可能产生的原因是（） THDS-C（哈科所）探测站,红外轴温探测系统光子探头元件温度正常值范围是（） 康拓THDS-BS红外轴温探测系统光子探头的器件温度是由控制箱内的控制的（） THDS-C（哈科所）探测站中，光子探头元件温度变化超过系统要自动进行热靶标定（） THDS-B双光子设备进行月检维修保养作业时，探测站中光子探头的元件温度是由控制箱内的制冷控制板控制的（） THDS-C（哈科所）红外轴温探测系统，光子探头元件工作温度应该为0度以下（） THDS-B（哈科所）红外轴温探测系统，光子探头元件工作温度应该为0度以下（） THDS-A（哈科所）探测站,红外轴温探测系统光子探头元件温度超过正常值范围，有可能造成探头测温（） THDS-C（哈科所）探测站,红外轴温探测系统光子探头元件温度超过正常值范围，有可能造成探头测温（） THDS（哈科所）探测站,红外轴温探测系统光子探头碲镉汞元件温度调整，具有种调整制冷方式（） THDS（哈科所）探测站的光子探头的主要光子器件是采用HgCdTe（锑镉汞）作为核心元件（） THDS（哈科所）探测站,光子探头元温工作温度小于度（）