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全程衰减测试采用光源.光功率计,对光链路对1310nm和1490nm波长进行测试,包括活动()的插入衰减。同时将测得数据记录在案,作为工程验收的依据。
多选题
全程衰减测试采用光源.光功率计,对光链路对1310nm和1490nm波长进行测试,包括活动()的插入衰减。同时将测得数据记录在案,作为工程验收的依据。
A. 活动光连接器
B. 光分路器
C. 接头
D. ODF架
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波长测试距离更远,1550nm比1310nm光纤对弯曲更敏感,1550nm比1310nm单位长度衰减更小()
59()波长测试距离更远,1550nm比1310nm光纤对弯曲更敏感,1550nm比1310nm单位长度衰减更小()
用光源、光功率计测试光纤1550nm波长双向全程衰减,测试比例为所有纤芯的()尽量安排测试不同纤芯带或不同纤芯束的纤芯
当前公司业务范围内,光功率计应该具备对1310nm、1490nm、()等波长光功率的测量功能
当前公司业务范围内,光功率计应该具备对1310nm、1490nm、()等波长光功率的测量功能
入户光缆敷设完毕后应使用光源、光功率计对其进行测试,入户光缆段在1310nm、1490nm波长的光衰减值均应小于1.0dB,如入户光缆段光衰减值大于,应检查分析原因,经处理后仍不能改善的,需重新制作光纤机械接续连接插头或者重新敷设光缆()
用光源、光功率计测试线路全程衰耗时,只需在中继段一端测试即可。
1550波长测试距离更远,1550nm比 1310nm光纤对弯曲更敏感,1550nm比1310nm单位长度衰减更小、1310nm比1550nm测的熔接或连接器损耗更高()
1550波长测试距离更远,1550nm比 1310nm光纤对弯曲更敏感,1550nm比1310nm单位长度衰减更小、1310nm比1550nm测的熔接或连接器损耗更高。
光功率计是可用于光网络的测试仪表,可在线测试PON系统中ONU突发的1310nm的上行光信号,OLT下行的1490nm光信号,以及1550nm光信号相应的光功率值()
在光缆线路全程测试中,使用1310nm波长时的平均衰减应不大于()DB/km
在光缆线路全程测试中,使用1310nm波长时的平均衰减应不大于()DB/km。
可使用光源、光功率计测试线路全程衰耗时,只需在中继段一端测试即可()
可使用光源、光功率计测试线路全程衰耗时,只需在中继段一端测试即可。
用光源和光功率计不能测试光纤接头损耗。
光纤线路衰减测量时应使用光时域反射计(OTDR)或光源、光功率计,测试时每根纤芯应()
单模光纤1310nm衰减为每公里()
光纤衰减取定,1310nm波长时().
OTDR(后向散射曲线)和光源、光功率计(介入法)均可进行光缆线路光纤衰减的测定,在启用光纤连接设备前以光源、光功率计测试结果为准()
OTDR的光源1310nm、1550nm波长用于多模光纤()
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