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对于良好绝缘的tan6测试在额定电压以下时,随着试验电压U的升高而基本不变()
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对于良好绝缘的tan6测试在额定电压以下时,随着试验电压U的升高而基本不变()
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tan6测试时,随着试验电压U的变化,tan6值呈闭合的环状曲线,则试品属于(B绝缘中存在气隙)()
当试品绝缘受潮时随着试验电压U的变化,tan6值呈开口环曲线()
对于额定电压为35kV及以上的设备,测试tan6时一般升压至()
对于额定电压为35kV及以上的设备,测试tan6时一般升压至10kV()
对于额定电压为35kV及以上的设备,测试tan6时一般升压至(A10kV)()
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tanδ测试时,随着试验电压U的变化,tanδ值呈开口环曲线,则试品属于()
tanδ测试时,随着试验电压U的变化,tanδ值呈闭合的环状曲线,则试品属于()
测量电气设备介质损耗角正切值tan6时,消除电场干扰影响的方法中使用移相器改变试验电压的相位在试验电流与干扰电流相同和相反两种情况下分别测量tan6的方法称为移相法()
当试品绝缘受潮时,随着试验电压U的变化,tanδ值呈开口环曲线。
当试品绝缘受潮时,随着试验电压U的变化,tanδ值呈开口环曲线()
测量电气设备介质损耗角正切值tan6时,消除电场干扰影响的方法中使用移相器改变试验电压的相位在试验电流与干扰电流相同和相反两种情况下分别测量tan6的方法称为(C移相法)()
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用西林电桥测试tan6时消除表面泄漏电流的接线方法是利用将表面泄漏电流直接回流到试验电源(B屏蔽环)()
用西林电桥测试tan6时消除表面泄漏电流的接线方法是利用(B屏蔽环)将表面泄漏电流直接回流到试验电源()
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