登录/
注册
下载APP
帮助中心
首页
考试
APP
当前位置:
首页
>
查试题
>
用半晶干涉法测量小平面的平面度,这种测量方法符合()。
单选题
用半晶干涉法测量小平面的平面度,这种测量方法符合()。
A. 最小条件
B. 包容原则
C. 相关原则
查看答案
该试题由用户361****47提供
查看答案人数:8514
如遇到问题请
联系客服
正确答案
该试题由用户361****47提供
查看答案人数:8515
如遇到问题请
联系客服
搜索
热门试题
市政平面控制测量方法常用()。
平面控制测量的主要方法有()等测量方法。基
工程测量中平面控制网的测量方法是()
目前海道测量平面控制常用的测量方法是( )。
目前海道测量平面控制常用的测量方法是( )。
工程平面控制网测量方法包括()
平面控制网的测量方法有()
平面控制网的测量方法有( )。
平面控制网的测量方法有( )。
平面控制网的测量方法有()。
平面控制测量中平面控制网建立的测量方法有( )。
测定控制点平面坐标所进行的测量工作,称为平面控制测量。常用的平面控制测量方法有()。
工程测量中平面控制网建立的测量方法有()
技术光波干涉法可以检定测量面的平面度,是利用光波()原理
平面控制网的主要测量方法有()。
建立平面控制网的测量方法有()
平面控制网建立的测量方法有( )。
工程平面控制网的测量方法有( )。
平面控制网的主要测量方法有( )。
CPⅢ点平面控制网测量方法为()
购买搜题卡
会员须知
|
联系客服
免费查看答案
购买搜题卡
会员须知
|
联系客服
关注公众号,回复验证码
享30次免费查看答案
微信扫码关注 立即领取
恭喜获得奖励,快去免费查看答案吧~
去查看答案
全站题库适用,可用于聚题库网站及系列App
只用于搜题看答案,不支持试卷、题库练习 ,下载APP还可体验拍照搜题和语音搜索
支付方式
首次登录享
免费查看答案
20
次
账号登录
短信登录
获取验证码
立即登录
我已阅读并同意《用户协议》
免费注册
新用户使用手机号登录直接完成注册
忘记密码
登录成功
首次登录已为您完成账号注册,
可在
【个人中心】
修改密码或在登录时选择忘记密码
账号登录默认密码:
手机号后六位
我知道了