CSK-1A试块中85、91、100mm的台阶主要用来测试直探头的分辦率（）

CSK-ⅠA试块上φ50 、φ44、φ40 三孔的台阶，可用来测定斜探头的分辨力。 CSK-IA试块的Φ50台阶孔有利测定斜探头的（） CSK-ⅠA、CSK-ⅢA、CSK-Ⅳ试块主要用于制作横波距离-波幅曲线、校准斜探头的K值、横波扫描速度和检测灵敏度等（） CSK-1A试块利用厚度25mm和高度100mm测定探伤仪的（） CSK-1A试块利用厚度25mm和高度100mm测定探伤仪的（） CSK-1A试块的标准长度为 CSK-1A试块利用试块直角棱边测定斜探头的（） 利用CSK-1A试块上∮50mm曲面和∮1.5mm横孔可测定斜探头（） 利用CSK-1试块上∮50mm曲面和∮1.5mm横孔可测定斜探头（） 探伤生产机构应配备试块、CSK-1A试块超声波探伤标准试块（） CSK-1A试块有机玻璃可测定（） CSK-ⅠA、CSK-ⅢA、 CSK-Ⅳ试块主要用于制作横波距离-波幅曲线、校准斜探头的 K 值、横波扫描速度和检测灵敏度等。 CSK-1A试块利用厚度25mm和高度100mm测定探伤仪的水平线性和 CSK-1A试块利用厚度25mm和高度100mm测定探伤仪的水平线性和 CSK-1A试块060303100圆弧面可测定（） 利用CSK-1A试块测定斜探头分辨力（） CSK-1A试块100圆弧面可测定（） CSK-IA试块利用厚度25mm测定探伤仪的（） CSK-IA试块利用厚度20mm和高度80mm调整纵波探测范围（） CSK-IA试块利用厚度25mm和高度调整纵波探测范围（）