入射电子束的能量很高，甚至可以激发出样品的特征X射线（）

不同能量的电子束，有效治疗深度(cm)为电子束能量MeV的 电子束剂量分布中X射线成分来源于（） X射线荧光分析中特征X射线光谱的产生过程可以分两步：第一步是利用入射量子的能量激发，第二步则是以特征X射线（荧光）的形式放出能量。 X射线荧光分析中特征X射线光谱的产生过程可以分两步：第一步是利用入射量子的能量激发，第二步则是以特征X射线（荧光）的形式放出能量（） 全身皮肤电子束照射时，常用的电子束能量为（） 全身皮肤电子束这时的常用电子束能量为（） 下同能量的电子束，有效治疗深度（cm）约为电子束能量（MeV）的多少（）。 完全阻止穿射电子所需最低的挡铅厚度（mm）应是电子束能量（Mev）数值的（）？ 由X射线管发出的一次X射线激发样品，使样品所含元素辐射出二次X射线，即X射线（） 确定电子束的能量，经典的方法是测量电子束的 直线加速器产生高能电子束、高能X线和γ射线。 电子束的斜入射的影响是 X射线管发出一次X射线照射样品，激发其中的化学元素,发出二次X射线,也叫（） 直线加速器能产生高能电子束、高能X线和γ射线。 直线加速器能产生高能电子束、高能X线和γ射线。 如果测得某能量的高能电子束PDD曲线，则电子束的模体表面平均能量是（） 如果测得某能量的高能电子束PDD曲线，则电子束的模体表面平均能量是 如果测得某能量的高能电子束PDD曲线，则电子束的模体表面平均能量是（） 比较x（γ），高能电子束的剂量学特征不包括（） 比较X（γ），高能电子束的剂量学特征不包括