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X荧光光谱仪内冷却水温度控制在()。
单选题
X荧光光谱仪内冷却水温度控制在()。
A. 20℃以下
B. 14~28℃
C. ﹤38℃
D. >38°
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X射线荧光光谱仪的X射线发生器由()构成。
X射线荧光光谱仪和光电直读光谱仪一样,都是采用光栅作为分光元件。
X射线荧光光谱仪和光电直读光谱仪一样,都是采用光栅作为分光元件()
目前我国的原子荧光光谱仪主要是()发生原子荧光光谱
原子荧光光谱仪的光源是
荧光光谱仪一般采用( )作为光源。
X射线荧光光谱仪和光电直读光谱仪一样,都采用光电倍增管来接受特征的光谱线信号()
波长色散X射线荧光光谱仪单色器由一对光束和()元件组成
在能量色散X射线荧光光谱仪上,探测器接收到的是()光束
台式X射线荧光镀层测厚仪和手持式X射线荧光光谱仪相比,更适合不规则样品的镀层检测()
能量色散X射线荧光光谱仪是利用X射线荧光具有不同()的特点,将其分开,依靠()探测器来检测
波长色散X射线荧光光谱仪上,在晶体和探测器之间的光束是()光束
波长色散X射线荧光光谱仪初级准直器的作用是将()的X射线变成()的射线束
波长色散X射线荧光光谱仪的精密度以20次连续重复测量的()表示
原子荧光光谱仪主要由()、()和()三部分组成。
用手持式X射线荧光光谱仪分析钢材中Si、Al元素时,激发时间要适当加长()
原子荧光光谱和原子吸收光谱仪在结构上的主要区别是()
波长色散X射线荧光光谱仪的X射线探测器是一种将X射线()转换成()的装置
波长色散X射线荧光光谱仪的分光晶体对温度的变化较敏感,温度变化会引起晶体面间距值的变化,导致谱线的位移。
利用X荧光光谱仪分析试样中的As、Pb时,AsKα线与PbLα线有干扰,则应选择()线进行分析
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