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半波高度法用于测量小于声束截面的缺陷尺寸()
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半波高度法用于测量小于声束截面的缺陷尺寸()
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超声波检测锻件时, 当缺陷尺寸小于声束截面时,一般可采用()。
当试件上下面与入射声束平行且缺陷反射面大于入射声束截面时可用底回波高度法及F/BF法()
在锻件检测中, 对于尺寸小于声束截面的缺陷一般采用测长法来测定缺陷的指示面积。
底面回波高度法(F/BF)法要求当试件且缺陷反射面入射声束截面时可用()
测长法一般适用于测定直径远小于声束截面的缺陷的大小()
对于面积大于声束截面或长度大于声束截面直径的缺陷,可用缺陷评定法()
当工件中缺陷尺寸大于声束截面时,一般采用来确定缺陷的长度()
对于大于声束截面的缺陷可用当量法评定其大小()
在锻件检测中,对于尺寸大于声束截面的缺陷一般采用当量法定量。
14只有当工件中缺陷在各个方向的尺寸均大于声束截面时,才能采用测长法确定缺陷长度()
半高度法是指用缺陷最大反射波高度降低一半(-6dB)作为缺陷边缘的指示缺陷长度的方法。
半高度法是指用缺陷最大反射波高度降低一半(-6dB)作为缺陷边缘的指示缺陷长度的方法()
对于大于声束截面的缺陷可用评定其大小()
声探伤时,如果声束指向不与平面缺陷垂直,则缺陷尺寸一定时,缺陷表面越平滑反射回波越()
大于声束截面的缺陷大小,一般采用的方法是用()
与声束不垂直的光滑平面状缺陷反射波的显示不是()。
3dB法又称半波高度法()
声束入射方向主要有直射声束法和斜射声束法()
用纵波探测离侧壁较近的缺陷时,只要侧壁反射声束的声程大于直通波声程,侧壁干扰即可避免()
底波高度法是指利用缺陷波与底波高度之比来衡量缺陷的相对大小()
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