测量介损tgδ和测量绝缘电阻一样,试品的表面泄漏对测量结果有一定的影响,并且（）

测量试品的绝缘电阻时，试品温度宜在（）之间。 试品绝缘表面脏污、受潮，在试验电压下产生表面泄漏电流，对试品tanδ和C测量结果的影响程度与试品电容量的大小无关。（） 介损电桥测量小电容试品介质损耗因数时，采用( )接线较好。 用绝缘电阻表测量大容量试品的绝缘电阻时，测量完毕为什么绝缘电阻表不能骤然停止，而必须先从试品上取下测量引线后再停止 在现场相同条件下（好天气），用介损仪测量小电容试品的tgδ和Cx时，用正接线方法和反接线方法测量结果是完全相同的（） 试品绝缘电阻的测量值获取需加压（ ）。 进行绝缘介损测量时，当标准电容受潮而有较大介损时会使实测绝缘介损减少（） 测量绝缘电阻和测量泄漏电流最主要的区别是（　　）。 测量绝缘电阻和测量泄漏电流最主要的区别是（） 测量绝缘电阻和测量泄漏电流最主要的区别是（ ）。 根据测量试品的绝缘电阻，可以初步估计试品的过载能力。 根据测量试品的绝缘电阻，可以初步估计试品的过载能力（） 测量互感器、套管等小电容量试品的介损tgδ时，如试品周围近距离内有大面积接地物体（墙壁、构架、栅栏等），通过（）耦合，会影响测量结果的真实性；对大电感试品，应将线圈首尾（），以消除电感、电容对测量准确度的影响。 测量互感器、套管等小电容量试品的介损tgδ时，如试品周围近距离内有大面积接地物体（墙壁、构架、栅栏等），通过（）耦合，会影响测量结果的真实性；对大电感试品，应将线圈首尾（），以消除电感、电容对测量准确度的影响 测量局部放电时，对耦合电容器的要求主要比绝缘电阻要高，介损要小（） 试品绝缘电阻的测量值获取需加压 （ ) s。 测量试品的绝缘电阻时，在测量前应充分放电，放电时应（）进行。 在湿度较大的条件下测量绝缘电阻时，可在试品表面加等电位屏蔽（） 测量被试设备的介损值，应该使用（） 使用指针式绝缘电阻表测量的试品表面脏污、油渍等会使其表面（），为获得正确的测量结果，应确保试品表面洁净，必要时加装屏蔽线（）