单选题

直射法探伤时,试件的探测面应选在与缺陷最大表面面上()

B. 相平行的

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以下哪种材料表面缺陷可用磁性探伤法探测() 尺寸和深度都相同的缺陷,在相同探伤灵敏度下探测,回波最高的是最大表面与波束轴线( )。 探头晶片与试件探测面不平行的超声波探伤法称呼错误的是() 斜探头横波探伤所得的缺陷,在探测面上的投影位于() 斜探头横波探伤所得的缺陷在探测面上投影位于探头() 斜探头通常是经过()来实现横波探伤的。主要用于探测与探测面()或()的缺陷 磁粉探伤可以探测()材料的零件表面缺陷。 采用一次脉冲反射法探伤,若工件内没有缺陷时且底面与探测面存在30度角的倾斜,则在显示屏上只有始发脉冲波和工件底面回波() 对有色金属试件表面缺陷最合适的探测方法是()。 焊缝横波探伤时,如采用直射法,可不考虑结构反射、变型波等干扰回波的影响。() 磁粉探伤是基于零件表面或近表面存在缺陷时,当零件在磁场中磁化后会()来探测缺陷。 渗透探伤,为了探测细小的缺陷,可将工件表面预热到40~50℃。 磁粉探伤适用于探测()材料的零件表面缺陷。 铝合金焊缝的表面缺陷应选择渗透探伤检验方法() 斜角探伤时,焊缝中的近表面缺陷不容易探测出来,其原因是() 锻件探伤中,若缺陷垂直于探测面且缺陷面有曲折或较粗糙时,若采用高灵敏度探伤,其反射波特征是() 焊缝探伤中,若缺陷垂直于探测面,且缺陷稍有曲折或较粗糙时,若采用高灵敏度探伤,其反射波特征是() 磁粉探伤时采用直流电磁化,可探测零件表面下()以内的缺陷。 磁粉探伤时采用交流电磁化,可探测零件表面下()以内的缺陷。 渗透探伤不能探测()缺陷和()缺陷。
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