THDS（哈科所）探测站,红外轴温探测系统当环境温度变化过大而使器件温度不能稳定在该温度时，再重新设置（）

THDS（哈科所）探测站,红外轴温探测系统单侧元件温度接近环温时，可能是造成的（） THDS-A（哈科所）探测站,红外轴温探测系统元温传感器电缆断路,会影响（） THDS（哈科所）探测站,红外轴温探测系统板温比正常值偏高很多，容易造成（） THDS-A（哈科所）探测站,红外轴温探测系统当设备板温器件PT1000采集的温度比实际环境温度高出很多时，设备探测的列车轴温温升就，容易造成热轴等级降低（） THDS（哈科所）探测站,红外轴温探测系统当设备板温器件PT1000采集的温度比实际环境温度高出很多时，设备探测的列车轴温温升就，容易造成热轴等级降低（） THDS（哈科所）探测站,红外轴温探测系统元件温度与正常值偏离较大，就会造成探头测温（） THDS-C（哈科所）探测站,红外轴温探测系统探头温控板是控制温度的电路板（） THDS-A（哈科所）探测站,红外轴温探测系统板温过高或过低都会造成板温自检（） THDS-A（哈科所）探测站,红外轴温探测系统单侧元件温度接近环温时，可能是造成的（） 在THDS-C（哈科所）探测站,红外轴温探测系统中环温插头松动的故障现象是（） THDS（哈科所）探测站,红外轴温探测系统光子探头的元件温度是由控制箱内的控制的（） THDS（哈科所）探测站,红外轴温探测系统光子探头碲镉汞元件温度调整，具有种调整制冷方式（） THDS-B（哈科所）探测站,红外轴温探测系统当设备板温器件PT1000采集的温度比实际环境温度低出很多时，设备探测的列车轴温温升就，容易造成热轴等级升高（） THDS-C（哈科所）探测站,红外轴温探测系统当设备板温器件PT1000采集的温度比实际环境温度高出很多时，设备探测的列车轴温温升就，容易造成热轴等级降低（） THDS-C（哈科所）探测站,红外轴温探测系统单侧元件温度接近环温时，可能是造成的（） THDS（哈科所）探测站,红外轴温探测系统元件温度不稳定或有跳变，容易造成探头碲镉汞器件的变化（） THDS-B（哈科所）探测站,红外轴温探测系统元件温度与正常值偏离较大，就会造成探头测温（） THDS-A（哈科所）探测站,红外轴温探测系统光子探头的元件温度是由控制箱内的控制的（） THDS（哈科所）探测站,红外轴温探测系统元温高低变化不稳定，影响热靶曲线，会造成测温误差大（） THDS-A（哈科所）探测站,红外轴温探测系统元件温度不稳定或有跳变，容易造成探头碲镉汞器件的变化（）