多选题

在现场测量小电容量试品的介质tanδ值时,受外界影响的因素很多,往往引入很多误差,这类试品主要是指()

A. 变压器
B. 耦合电容器
C. 电流互感器
D. 变压器套管

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根据油浸式变压器(电抗器)验收细则:介质损耗因数、电容量测量,20℃时介质损耗因数:对tgδ≤0.8%。应提供电容量实测值() 在进行较大电容量被试品的变频耐压试验时,应直接在被试品端部进行电压测量() 介损电桥测量小电容试品介质损耗因数时,采用( )接线较好。 额定电压10kV的试验变压器,测量电容量为20000pF试品的tanδ时,在下列试验变压器容量中最小可选择( )kVA。 高压套管电容量和介质损耗因数试验影响测量的因素有( )。 用额定电压10kV的试验变压器,测量电容量为20000pF试品的tanδ时,最小可选择容量为0.5kVA试验变压器() 用额定电压10kV的试验变压器,测量电容量为20000pF试品的tanδ时,最小可选择容量为0.5kVA试验变压器。(&&)() 测量互感器、套管等小电容量试品的介损tgδ时,如试品周围近距离内有大面积接地物体(墙壁、构架、栅栏等),通过()耦合,会影响测量结果的真实性;对大电感试品,应将线圈首尾(),以消除电感、电容对测量准确度的影响。 测量互感器、套管等小电容量试品的介损tgδ时,如试品周围近距离内有大面积接地物体(墙壁、构架、栅栏等),通过()耦合,会影响测量结果的真实性;对大电感试品,应将线圈首尾(),以消除电感、电容对测量准确度的影响 现场用电桥测量介质损耗因数,出现-tanδ的主要原因:①标准电容器CN有损耗,且tanδN>tanδx;②电场干扰;③试品周围构架杂物与试品绝缘结构形成的空间干扰网络的影响;④空气相对湿度及绝缘表面脏污的影响() 介质损耗测试仪测量电容量时,在10kV试验电压下,电容量的内施法测量范围不小于p() 介质损耗测试仪测量电容量时,在10kV试验电压下,电容量的内施法测量范围不小于pF() 试品绝缘表面脏污,受潮,在试验电压下产生表面泄漏电流,对试品介损和电容量测量结果的影响程度是() 进行大电容量试品交流耐压试验时,试验电压不能() 用介损仪反接线测量小电容量试品(<50PF)的介损tgδ及Cx时,在附近处有物体(如梯子等)情况下测得的电容值较物体拆除拆除后测得的电容值() 干式电流互感器的tanδ及电容量试验主绝缘电容量与初始值或出厂值差别超过时应查明原因() 根据套管介质损耗角正切值tanδ 和电容量的变化可以较灵敏地反映出( )和其他局部缺陷。 油浸式电流互感器采用比较法带电测试tanδ及电容量时,同相设备介损测量差值与初始测量值差值比较,变化范围不超过_A_,电容量比值与初始测量电容量比值比较,变化范围不超过()。 当设备各部分的介质损耗因数差别不大时,其综合的tanδ值接近于并联电介质中电容量最大部分的介质损耗数值() 测量电容器的tanδ及电容量测量时,不必断开电容式电压互感器二次侧空气开关()
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