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用同样尺寸和频率的探头高层液浸法探测同一试件时,透入试件的超声波束指向性最好()
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用同样尺寸和频率的探头高层液浸法探测同一试件时,透入试件的超声波束指向性最好()
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同一操作者使用同一台仪器对同一试件进行测量时,其结果之间的允许偏差为%()
探头晶片与试件探测面不平行的超声波探伤法,称为()。
液浸法检测适用于表面粗糙的试件,探头不易磨损,耦合稳定,检测结果重复性好,便于实现自动化检测。
在水浸检验中,探头与试件水距()
为提高透入工件的超声波能量,在探头和探测面间施加一种介质,这种介质称为()。
为提高透入工件的超声波能量,在探头和探测面间施加一种介质,这种介质称为()。
液浸探伤时,需要调整探头和被检零件表面之间的距离(水距),使试件的第二次界面回波落在()
用IIW标准试块测定斜探头的折射角度,在探测任何声速的试件时,此值()
在水浸检验中,探头与试件间水距()
用浸液聚焦探头局部水浸法检验钢板时,声束进入工件后将()
酸值测试时,应取()ml化验油和2ml酸值测量液,倒入同一试管中
用CSK-1A标准试块测定斜探头的折射角度,在探测任何声速的试件时,此值()
探头晶片与试件探测面不平行的超声波探伤法称呼错误的是()
用垂直法探测同一试件同深度上的两个缺陷,调节衰减器使其回降至屏高的50%,前一个缺陷回波至此高度时衰减器读数时是10dB,后一个缺陷回波至此高度时衰减器读数是40dB,则()
在探测同一材料时,频率越高则衰减愈大()
在用直探头进行水浸法探伤时,探头至探测面的水层距离应调节在使一次与第二次界面回波之间至少出现一次()
用垂直法以相同探测灵敏度探测同一试件同深度上的两个缺陷,调节衰减器使其回波降至屏高的50%,前一个缺陷回波至此高度时衰减器读数是10dB,后一个缺陷回波至此高度时衰减器读数是40dB则()。
液浸法是将探头和工件浸于液体中,以液体作耦合剂进行检测的方法()
用纵波水浸法检验钢材时,水距40mm时能探测的最大厚度()
探头的选择包括探头的型式、频率、晶片尺寸、灵敏度余量和斜探头K值等。
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